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[治疗](二)X线头影测量图的重叠

X线头影测量重叠图是正畸临床与研究工作中的一种常用手段,常用来回顾性观察与评估颅颌面生长发育和正畸治疗前后牙、颌、颅面结构位置的变化。牙、颌、颅面结构随生长发育或经矫治以后所发生的改变,可以通过两张或数张同一个体于不同时期所拍摄的X线头影测量片重叠图进行观察。常用的头影图迹重叠法有以下几种:1 .观察牙、颌、颅面总体改变的图迹重叠法。下颌图迹重叠,以下颌骨局部重叠来观察下颌,特别是下颌磨牙及下切牙的位置变化,一般以下颌体联合部的舌侧皮质骨及下颌神经管的影像为基准,若下牙槽神经管模糊不清,可用下颌骨的边缘代 ......

——《口腔正畸学》
书名:《口腔正畸学》
栏目:口腔正畸学 > 第二篇 诊 断 篇 > 第七章 X线头影测量分析 > 第二节 X线头影测量技术 > 四、X线头影测量图的描记与重叠
作者:林久祥
参编:许天民,赵志河,丁寅,白玉兴,邓锋
页码:143-144
版本:1
出版社:人民卫生出版社
出版时间:2011-01-01
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