119. 儿科创伤性脑损伤后工作记忆和胼胝体显微结构的完整性：扩散张量对脑白质的研究

工作记忆（WM）缺陷是一种常见的小儿创伤性脑损伤（TBI）的后遗症，它被认为是导致儿童一系列认知功能障碍及学习困难的原因。实验的两组儿童，在连接前后顶叶皮质区域的胼胝体亚区中，低FA和/或高径向扩散系数预示着言语WM较差，而在连接前后顶叶以及颞叶、皮质的胼胝体亚区，出现较高的径向扩散系数则预测贫差的视觉空间WM。在未来对神经解剖学的生物标志物进行临床运用，可能有利于早期识别存在高危WM缺陷的儿童，并能更早为这些孩子提供干预措施。 ......