[文献资料]第三节 原子力显微镜

原子力显微镜（atomic force microscope，AFM）具有较宽的工作范围，可以在大气、超高真空、各种溶液以及反应性气氛等环境中使用，它通过极细的检测探针与样品表面顶端原子之间微弱的相互作用力，分析固体样品表面的形貌。还可以对各种材料的表面结构，相关力学性能以及表面微区摩擦性质进行研究，仪器可不抽真空，样品可以不具有导电性。从而获得样品表面原子级形貌图像。 ......