[辅助检查]四、量子检出效率（DQE）

DQE用来描述平板探测器对X线量子探测的效率。它测量了探测器对入射到探测器表面的X线的吸收能力。DQE已成为客观评价探测器，尤其是现代的数字成像探测器性能的重要方法。高的DQE表现了成像系统在低入射剂量条件下获得高质量影像的能力，它涉及探测器的灵敏度、线性、噪声剂量、MTF等多项参数，因此DQE是较全面和完整的性能评价参数。其中G是探测器的增益，是探测器表面单位面积输入的X线量子数, MTF是调制传递函数，WS是威纳频谱。IEC标准定义单位面积量子数为输入信噪比的平方，所以需要将比释动能转换为单位面积量子 ......