20世纪60年代末期到80年代末期是电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP‐AES)技术发展的昌盛时期,尽管直至1974年才由美国应用实验室生产出第一台商品仪器,但是由于ICP‐AES在痕量元素分析中的优势:高灵敏度、低检出限、宽动态范围、多元素同时分析等。这种技术应该几乎能够保留ICP‐AES的所有优势,而且能够克服制约其发展的劣势,原子质谱分析是唯一能够与ICP‐AES竞争的元素分析技术,它可测定的元素几乎能涵盖元素周期表中大部分元素,并且能满足测定灵敏度的要求,而且谱图简单,分辨率适中。但是在当时情况 ......