20世纪80年代初,扫描隧道显微镜(scan ning tunnel microscope,STM)获得了原子级分辨率的导电物质表面结构图像,此后发展了一系列的扫描探针显微镜。其中原子力显微镜(atomic force microscope,AFM)以自身的优势逐渐从最初的物理学、材料科学与工程领域应用拓宽到生命科学领域。原子力显微镜由IBM公司的Binnig于1985年发明,目的是为了使非导体也可以采用扫描隧道显微镜进行观测。在AFM中,利用纳米级的探针固定在可灵敏操控的微米级尺度的弹性悬臂上,当针尖很 ......