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[速览]第四节 CCD探测器的性能评价

尽管CCD系统非常敏感,然而光学耦合系统会降低到达CCD的光子数,从而增加系统的噪声,出现图像几何失真、光的散射和降低图像的空间分辨率。另外,由于必须使用光学耦合系统,基于CCD的X线探测器最大的不便在于所需的探测器系统的厚度难以降低,因而该技术难以成为数字化X线摄影技术的主流。当饱和曝光量以上的强光像照射到图像探测器时,探测器的输出电压将出现饱和,这种现象称为输出饱和特性。当信号电荷积蓄时间(多为控制脉冲的间隔)与照度乘积,即曝光量达到某一数值时,探测器的输出呈饱和,这时的曝光量称为该探测器的饱和曝光量 ......

——《中华医学影像技术学. 数字X线成像技术卷》
书名:《中华医学影像技术学. 数字X线成像技术卷》
栏目:中华医学影像技术学. 数字X线成像技术卷 > 第十七章 CCD探测器成像技术
作者:余建明
参编:刘广月,罗来树,李 萌,朱 凯,牛延涛
页码:248-251
版本:1
出版社:人民卫生出版社
出版时间:2017-08-01
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