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[治疗]第二节 X线头影测量技术

用做头影测量的X线头颅影像,需在头颅定位仪(cephalometer)的严格定位下拍摄,因为只有在排除因头位不正而造成的误差后,各测量结果才有分析、比较的意义。自1931年Broadbent使用第一架头颅定位仪以来,出现了许多不同类型的头颅定位仪,其种类虽多,但定位的基本原理大致相同,只是近年来的产品结构更趋精密、准确(图7-。但由于摄片时球管、头颅与胶片三者位置较为恒定,故各X线片的放大误差基本一致,不会引起相互之间的差异。R为放大误差率,D为X线球管焦点至胶片距离,d为头部正中矢状面至胶片距离。 ......

——《口腔正畸学》
书名:《口腔正畸学》
栏目:口腔正畸学 > 第二篇 诊 断 篇 > 第七章 X线头影测量分析
作者:林久祥
参编:许天民,赵志河,丁寅,白玉兴,邓锋
页码:135-136
版本:1
出版社:人民卫生出版社
出版时间:2011-01-01
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