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[辅助检查]八、Enlow分析法

Enlow生长发育分析法(Enlow analysis)是Enlow基于他本人对颅面生长发育的大量研究提出的。他对同一个体在不同年龄段及牙龄期进行了测量研究,设计了以蝶筛点(SE)作为基准点,通过SE点沿上颌结节后缘所作的垂直平面(PM)为基准平面,得出颅面部的生长向前下方进行的结论。由Enlow、Moyers、Hunter以及McNamara共同倡导的生长分析法(analysis of growth equivalents),包括形态分析、生长分析及疗效分析等,其基础为Enlow的“对应分析”,以下重点 ......

——《口腔正畸学——基础、技术与临床》
书名:《口腔正畸学——基础、技术与临床》
栏目:口腔正畸学——基础、技术与临床 > 第二篇 诊断与技术 > 第六章 常用X线头影测量分析法 > 第三节 侧位片常用X线头影测量分析方法
作者:陈扬熙
参编:赵志河,白丁,赖文莉,邹淑娟,罗颂椒
页码:235-239
版本:1
出版社:人民卫生出版社
出版时间:2012-01-01
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