[治疗]第七章 X线头影测量分析

X线头影测量（cephalometrics），主要是在X线头颅定位照相所得的影像上确定牙、颌、颅、面的一些标志点，然后根据这些标志点描绘出一定的线距和角度，再对这些线距和角度进行测量、比较和分析，以了解牙、颌及颅面软硬组织的结构情况及相互间的关系。几十年来，X线头影测量一直成为口腔正畸、口腔颌面外科、口腔修复等学科在临床诊断、治疗设计及研究工作中的重要手段。与此同时，电子计算机X线头影测量也开始广泛应用于口腔正畸研究与临床诊断分析。 ......