根据临床检查及X线头影测量分析结果进行诊断。通过头影测量分析还可帮助确定前牙反是由于下颌骨整体发育过度还是因前部牙槽骨发育过度引起的,前者磨牙关系多为安氏Ⅲ类,颏点位置前移,后者多为安氏Ⅰ类,颏点位置正常甚至后缩。依据X线头影测量分析可以分辨骨源性与牙源性畸形,还应鉴别由于上颌骨发育不足导致的假性下颌前突,后者也表现为安氏Ⅲ类及前牙反。上颌骨发育不足者,其上颌骨相对颅底位置偏后方,SNA角常小于80 °,SNB角可为正常值。 ......