[辅助检查]第六章常用X线头影测量分析法

X线头影测量技术还可运用于人类学、法医学和考古学研究等。 ......

——《口腔正畸学——基础、技术与临床》

书名：《口腔正畸学——基础、技术与临床》

栏目：口腔正畸学——基础、技术与临床 > 第二篇诊断与技术

作者：陈扬熙

参编：赵志河，白丁，赖文莉，邹淑娟，罗颂椒

页码：214

版本：1

出版社：人民卫生出版社

出版时间：2012-01-01

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