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[治疗]四、X线头影测量图的描记与重叠

头影测量图的描绘(图7-15,图7-。将X线头颅影像描于硫酸纸上,再在描图纸上进行测量分析。在X线头影图像上,如有因头颅本身厚度或个体两侧结构不完全对称而出现的部分左右影像不能完全重合时,则按其平均中点或线来描绘。头影测量标志点可以使用一系列有具体坐标的点来代表,使得头影测量数据可以录入计算机。随着计算机系统的功能越来越强大,头影测量软件的日趋完善,使用计算机辅助头影测量分析越来越普遍,计算机分析已逐渐成为一种常用的头影测量手段。侧位片的描绘应包括颅面部软硬组织侧貌、上下颌骨轮廓、颅底部与颅后部轮廓、筛板 ......

——《口腔正畸学》
书名:《口腔正畸学》
栏目:口腔正畸学 > 第二篇 诊 断 篇 > 第七章 X线头影测量分析 > 第二节 X线头影测量技术
作者:林久祥
参编:许天民,赵志河,丁寅,白玉兴,邓锋
页码:142-143
版本:1
出版社:人民卫生出版社
出版时间:2011-01-01
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