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[辅助检查]第三节 侧位片常用X线头影测量分析方法

几十年来正畸学者们通过对X线头侧位片进行描图、定点、连线,将三维颅面结构转化成二维平面图形,进行各种线距、角度、比例、弧形的分析,形成了多种分析方法。每种方法在设计思想以及应用过程中,尽管各有侧重,如偏重于研究生长发育、辅助功能分析、提供诊断设计、进行疗效对比、辅助正颌外科等,但在全面分析颅‐颌‐牙‐面硬软组织结构关系的变化,以辅助指导正畸治疗的目的上是一致的。但在基层医院,头侧位片的描图计测方法仍应用很广,在国内外正畸临床中,仍是一种最简单、最常用、最经济适用的基本方法。 ......

——《口腔正畸学——基础、技术与临床》
书名:《口腔正畸学——基础、技术与临床》
栏目:口腔正畸学——基础、技术与临床 > 第二篇 诊断与技术 > 第六章 常用X线头影测量分析法
作者:陈扬熙
参编:赵志河,白丁,赖文莉,邹淑娟,罗颂椒
页码:221-222
版本:1
出版社:人民卫生出版社
出版时间:2012-01-01
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