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[文献资料]第五章 常用头颅定位侧影像测量点

头影测量标志点( cephalometric landmarks )是用来构成一些平面及测量内容的定点,也可作为重叠比较法的重叠原点,其重要性不言而喻。因此,在应用头影测量技术时,对标志点定点的要求就是“精准”两字。这类标志点由于左右组织结构放大误差不一致,在定位侧位片上呈双重影像,所以在定点和描图时应取左右影像的平均中点。本书尝试在头颅影像上直接定点,并与原影像进行对照,再配合干头骨定点和描迹图定点,四者相互对照,以期让读者能从对照比较中学会精准地定点。常用颅部标志点除耳点外,均位于头颅正中矢状平面上, ......

——《临床X线头影测量学》
书名:《临床X线头影测量学》
栏目:临床X线头影测量学
作者:田乃学 卢海平 刘 怡 滕起民 周彦恒 吴建勇
参编:柳胜杰,于吉冬,于吉冬,马丹丹,田乃学
页码:57-60
版本:1
出版社:人民卫生出版社
出版时间:2016-01-01
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