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[辅助检查]三、X线头影测量分析

X线头影测量是利用摄影取的定位头颅X线片，选择代表牙颌与颅面解剖位置相对稳定的一些标志点，通过线距、角度及比例的测量后，再与正常值或自身不同阶段相应指标进行比较分析。 ......

——《正颌外科学》
书名：《正颌外科学》
栏目：正颌外科学 > 第八章 牙颌面畸形的诊断与治疗设计 > 第一节 牙颌面畸形的检查及诊断
作者：胡 静
参编：沈国芳，王兴，王涛，王大章，卢利
页码：57
版本：1
出版社：人民卫生出版社
出版时间：2010-11-01
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