[辅助检查]三、裂隙灯检查法

裂隙灯检查法是应用裂隙灯角膜显微镜以投射光线的不同角度和宽窄，焦点或弥散方法经角膜显微镜观察晶状体的光学特性，从而对晶状体的位置，病变情况做出判断。一般检查越是近轴位的部位投射角度越小如15 °～30 °，周边部则可达45 °～60 °。检查晶状体有无移位，有无明确的斑点状或楔形混浊，晶状体表面是否光洁一致等，但不能明确晶状体各层较细微的改变。因为晶状体厚4～5mm，所以检查时必须将焦点从晶状体前囊开始顺序向后至后囊逐层观察，并且从颞侧至鼻侧连续观察各光学切面才能对检查的晶状体有一个全面的印象。以上几种裂 ......