[发病机制]（一）胰岛素抵抗（insulin resistance，IR）

目前研究表明导致IR发生的缺陷部位可分为受体前、受体和受体后缺陷三类：1 ﹒受体前缺陷。细胞内葡萄糖磷酸化障碍:Bonnadona等[2]用32 P NMR波谱镜法和14 C及3 H标记的运转/非运转的和代谢/非代谢的葡萄糖多室动力学模型加钳夹实验,证明非肥胖2型糖尿病肌细胞内的葡萄糖6‐磷酸浓度明显降低。而此酶活性降低又受糖原合成酶及丙酮酸脱氢酶活性降低的影响，HK‐Ⅱ活性降低所致细胞内磷酸化障碍是2型糖尿病受体后抵抗的重要部位。以受体后缺陷为主的IR是现代常见代谢病，如糖尿病、肥胖症、高血压、高脂血症 ......