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[辅助检查]四、下颌阻生智齿定位检查法

低位阻生智齿在常规根尖片上检查,如果不能确定位置,例如:不能确定阻生智齿的倾斜方向、与第二磨牙出现异常重叠,以及牙根与下颌管的关系不清楚时,可改变投照方法,进行定位检查。适应证及投照技术如下:横断片定位检查法。颊、舌向位阻生智齿,如其位置靠后,横断片检查法不能将阻生智齿包括在照片之内,可用根尖片改变垂直角度投照定位。颊、舌向位阻生智齿定位:如用正角度投照,照片上显示牙冠移向牙槽侧,牙根移向下颌骨下缘侧,即为舌向位阻生齿(图4-。图4-26颊、舌向位阻生智齿改变垂直角度定位法。 ......

——《下颌阻生智齿》
书名:《下颌阻生智齿》
栏目:下颌阻生智齿 > 第四章 X 线 检 查
作者:耿温琦 王收年
参编:章魁华,王收年,朱宣鹏,刘树文,李盛林
页码:36-40
版本:2
出版社:人民卫生出版社
出版时间:2008-04-01
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