[诊断]第2节 头影测量分析及预测

X线头影测量分析（cephalometric analysis）主要是通过在X线侧位头颅定位片描迹图上，标定一些公认的牙颌、颅面结构解剖标志点，然后对由这些点组成的角、线进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织结构关系，使对牙颌、颅面的临床检查、诊断。如果需要作下颌前部根尖下截骨术，应先在下颌模板上制作下颌前部牙骨段模板，作适当的移动，再拼对上、下颌模板为一体。如果上颌前部及后部需要分段作不同方位的移动或需拔牙去骨，则要先剪拼上颌模板，如上颌前突中所述，再移动下颌模板，建立良好的咬合关系。VTO显示了上、 ......