[文献资料]三、无孔径太赫兹近场扫描显微成像技术

借鉴已在可见和红外波段发展起来的无孔径近场扫描光学显微镜（ ANSOM ）技术［ 53-57 ］ ，太赫兹波段同样也发展起来了ANSOM技术。另外值得注意的是，相比于可见光/红外ANSOM技术，太赫兹波段的ANSOM技术可以直接测量电场强度，而不是测量光强，因此这个方法还可以测量锥形针尖的频率滤波性质。另外，无孔径近场显微成像技术存在的一个主要的应用问题是，由样品介电函数导致的信号改变量与由针尖样品的距离导致的信号改变量是相当的，因此实验中需通过保证样本的平坦度或者测量样本的THz频率响应（确定样本的共振 ......