干化学分析技术是多种前沿科学的交融,其测定方法主要采用反射光度法和差示电位法两大类。干化学分析的差示电位法和常规化学分析的离子选择电极的测定原理相同,故此不作详述。如图14‐2所示,设某固相反应层的厚度为x,来自外部的照射光可通过该固相反应层后在下界面被反射。现设照射光强度为I 0,在该固相反应层内距下界面距离为x的微分层厚度dx上的入射光强度与反射光强度分别为i与j,则可建立以下的微分方程组:式中S为固相反应层单位厚度的散射系数,K为显色反应后或空白固相反应层单位厚度的吸收系数。Kubelka‐Munk ......