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[辅助检查]第二节 常用X线头影测量的标志点及平面——侧位片

标志点(land mark)是用来构成测量内容的点,理想的标志点应是生长发育过程中相对稳定,X线片中易于确定、能代表一定解剖结构位置的点。包括:①解剖标志点(anato mical land mar k):是真正代表颅骨的一些解剖结构,其标志点可以在颅骨X线片上识别。位于正中矢状面上的标志点一般易于确定,如鼻根点(N)、蝶鞍点(S)等。引申标志点(cephalametric land mar k):是通过头影测量图上的解剖标志点引申而来,如关节点(Ar)、翼上颌裂点(Pt m)、下颌支中点(Xi)等。Po ......

——《口腔正畸学——基础、技术与临床》
书名:《口腔正畸学——基础、技术与临床》
栏目:口腔正畸学——基础、技术与临床 > 第二篇 诊断与技术 > 第六章 常用X线头影测量分析法
作者:陈扬熙
参编:赵志河,白丁,赖文莉,邹淑娟,罗颂椒
页码:216-221
版本:1
出版社:人民卫生出版社
出版时间:2012-01-01
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