[文献资料]第七章　常用X线头影分析法

X线头影分析法实际上包含两大类方法：一是通常所谓数学测量分析法。二是重叠描迹图形态比较法。所谓测量分析法是一种数学描述的方法，即测量相关组织结构间的角度、线距和线距比，力求用各种数据来描述说明各组织结构间的相互位置关系或本身形态，并对造成畸形的根本原因作出诊断。而所谓重叠描迹图形态比较法，即将矫治前后或同一个体在生长发育不同时期的头影描迹图，以生长发育比较稳定的部位作重叠，以直观地观察比较颅颌面牙的形态和位置变化。因此，在评价畸形特征、分析畸形机制时，综合评价各项测量指标的意义，从整体上来识别变异结构对形 ......