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[治疗](二)测量平面

测量平面是在头影测量分析中用于反映颅部与上、下颌形态与结构的主要测量平面,包括硬组织测量平面与软组织测量平面。腭平面(palatalplane, ANS-PNS):后鼻棘与前鼻棘之连线。自然的或称功能的平面,由均分后牙接触点而形成,常使用第一恒磨牙或第一前磨牙的接触点,这种方法形成的平面不使用切牙的任何标志点。1 .腭平面。4 .下颌平面(A)下颌角下缘与颏下点连线,下颌下缘最底部切线, Go-Gn连线.下颌平面(mandibular plane, MP):下颌平面的确定方法有以下三种:①通过颏下点与下颌 ......

——《口腔正畸学》
书名:《口腔正畸学》
栏目:口腔正畸学 > 第二篇 诊 断 篇 > 第七章 X线头影测量分析 > 第二节 X线头影测量技术 > 三、常用X线头影测量平面
作者:林久祥
参编:许天民,赵志河,丁寅,白玉兴,邓锋
页码:141-142
版本:1
出版社:人民卫生出版社
出版时间:2011-01-01
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