[辅助检查]五、X 线头颅测量片

研究分析正常及错颌畸形患者牙、颌、面形态结构，研究颅面生长发育及记录矫治前后牙、颌、面形态结构的变化。头颅定位仪的种类很多，但其结构的基本原理大致相同，经过近年来的改进，其结构愈趋精密准确。侧位:受检者坐于椅上,调至外耳道口与耳塞相齐，然后将两侧耳塞放进外耳道口内。此时，头矢状面与暗盒平行。眶针尖端应指在眶下缘最低点，嘱受检者咬在正中牙位。直入暗盒架上，与地面垂直。投照时用遮线筒、滤线器。侧位片X线中心线对准外耳道口，垂直射入暗盒。正位片听眶线亦与暗盒垂直。见图5‐251头颅侧位片、图5‐252头颅正位片 ......