[概述]七、显微分析

透射电子显微镜（transmission electron microscope，TEM）是利用电子束代替光源，用电磁透镜代替光学显微镜中的聚光镜进行成像，分辨率可达到0.2nm。透射电镜的样品可以是很薄的切片（超薄切片）或者很小的颗粒，因为透射电镜的电子只能穿过小于100nm的厚度，可用来观察材料或者细胞内部的细微结构，或者观察纳米粒子的大小和形态。由于电子束穿透能力很弱，观察时需将样品安放在附有支持膜的铜网上。AFM分辨率很高，可在原子量级上显示物质的表面结构，可用于观察高分子材料表面形貌和相分离，单 ......