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[辅助检查]第五节 常用X线头影测量方法——正位片

正位片即后前位片常用于分析诊断颜面不对称畸形和面部横径生长异常的患者,也可用于分析上颌磨牙相对于上颌基骨的颊舌向错位,及提供鼻孔的宽度等。常用标志点包括:面部矢状中线标志点、面上部标志点、面中部标志点、下颌部标志点(图2‐6‐52B)。在正位片分析中,Ricketts设计了五个方面,共15项计测项目,通过分析左/右侧、上/下颌及牙列的对称关系变化,并结合侧位片分析(图2‐6‐。该方法主要包括骨骼分析、牙分析、对称性分析三部分:1 ﹒骨骼分析(图2‐6‐。鼻狭窄可引起口呼吸,意味着需要增加腭宽度以获得理想的 ......

——《口腔正畸学——基础、技术与临床》
书名:《口腔正畸学——基础、技术与临床》
栏目:口腔正畸学——基础、技术与临床 > 第二篇 诊断与技术 > 第六章 常用X线头影测量分析法
作者:陈扬熙
参编:赵志河,白丁,赖文莉,邹淑娟,罗颂椒
页码:264-270
版本:1
出版社:人民卫生出版社
出版时间:2012-01-01
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