电子探针分析有四种基本方法:定点定性分析、线扫描分析、面扫描分析和定点定量分析。通常将电子束扫描线及特征X射线强度分布曲线重叠于二次电子图像之上,直观地表明元素含量分布与形貌、结构之间的关系。在稳定的电子束照射下,由谱仪得到的X射线谱在扣除背景计数率之后,各元素的同类特征谱线的强度值应与它们的浓度相对应。在进行X射线定量分析时会受到各种因素的影响,要求对数进行值校正,才能用作样品中元素绝对量的测定,这些校正通常包括:仪器校正,逃逸峰和背景的去除,重选峰的剥离以及吸收校正、阻挡校正和背散射校正等。 ......