当可对同一控制物获得2个或更多的控制测定值时,能联合平均数和极差规则提供非常高的P ed,以及低的P fr。具有大的N时,平均数/极差联合规则能检出非常小的误差,使用象x ─ 0 ﹒ 01/R 0 ﹒ 01联合能提供低的P fr,且对系统误差具有很好的灵敏度。平均数和极差规则的主要缺点是在每一批上必须是同一控制物重复测定相同的次数。而且,大的批间变异分量能够影响到平均数规则的性能。 ......