荧光光谱法(SFM)也称荧光光度法,它与紫外‐可见光谱法或原子吸收光谱法的本质区别是,SFM是测量待测物质发射光谱的强度,而前者均是测量待测物质的分子或原子吸收光谱的强度。荧光的产生是多原子分子吸收光量子时,电子根据量子力学的选择原则,从基态的最低振动能级跃迁到高能电子态,然后分子又通过无辐射过程弛豫到一种激发态的最低振动能级,并在回到基态时以发射光子的形式释放能量,通常把这种发射光子称为荧光。SFM测定的基本原理是待测物质受激发光激发后发射的荧光强度(F)、荧光效率(Φ)、激发光强度(I0)、摩尔吸光系 ......