[辅助检查]第三节 正颌外科X线头影测量

X线头影测量（cephalometric radiography）是通过头颅定位仪严格定位下摄取的头颅X线影像，采用角度、线距和比例等测量方法分析颅面及牙颌硬软组织结构特征和形态变化的一种检测技术。X线头影测量自1931年由Broadbent创立以来，在口腔医学领域，特别是在口腔正畸学中的应用十分广泛，是进行正常颅面结构测量和错畸形诊断、矫治设计和疗效评估的一种重要研究手段和分析方法。由于颅面和牙颌形态结构存在种族乃至地区差异，因此必须先研究正常人颅面结构特征，建立起适合于本民族和本地区的正颌外科X线头影 ......