[文献资料]第三节　超分辨成像系统

无孔径扫描光学显微镜（ ANSOM ）技术基于亚波长尺寸的锥形金属针尖可以散射光场，因此可以作为一个光源的思想。可以证明，取向的GaP或ZnTe晶体可以测量电场的z分量,即垂直于晶体表面方向的电场分量，而同时测量不到x和y分量［ 6 ， 8 ］ 。只有在锥形针尖的附近才有z分量，这是因为在准静态近似下，金属界面电场的边界条件只允许垂直于金属表面方向的电场分量存在。这个方法与可见光/红外ANSOM方法的区别是它可以直接测量电场强度，而不是测量光强，因此这个方法可以测量锥形针尖的频率滤波性质。使用锥形金属针尖 ......