X线头影测量方法对上气道和相关结构的评估,已成为一种重要的手段,这种技术的特点如下:X线头影测量方法评估上气道及相关结构的长处.2 ﹒本方法可真实地反映上气道及相关结构本方法选择的标志点和测量项目,与OSAHS病因学中与上气道相关结构解剖形态异常直接有关。1 ﹒本方法虽然可以直接地评估上气道和相关结构,但其主要反映的是侧位影像,也就是上气道及相关结构在前后方向的情况,由于正位定位X线头影测量头颅面骨骼软组织重叠过多,就是在口腔正畸和正颌外科临床的应用都比较困难,使用也比较少。而后面的一项不足,则需通过对上 ......