[治疗]二、X线头影测量的意义

X线头影测量是研究颅颌面生长发育的重要手段。通过X线头影测量分析，一方面可研究各年龄阶段个体的颅颌面生长发育（横向研究），另一方面也可研究个体不同时期的颅颌面生长发育情况（纵向研究），从而了解颅颌面生长发育机制、快速生长期、性别间差异以及进行颅颌面生长发育的预测。1941年Brodie使用X线头影测量技术，对出生后3个月至8岁的儿童颅颌面生长发育进行了纵向研究，所得出的儿童颅颌面生长图迹重叠图，至今仍被广泛应用。Enlow提出并为大家所推崇的颅颌面生长发育新理论，也是以X线头影测量作为研究手段。 ......