[辅助检查]一、功能性矫治的X线头影测量分析——Rakosi分析法

功能性矫治的X线头影测量，分析有其不同的侧重点和相应的分析方法。分析计测的内容有以下要点：①确定畸形发生的机制：即确诊是骨性、牙性还是功能性畸形（详见第六章中的“神山分析法”）。分析畸形发生的部位和程度:是上颌、下颌、颅底长度的过长或位置的过前过后,还是个别不调或是复合性不调及其差异程度。判断其生长型及生长趋势:即确定颅骨及上下颌基骨已经表现出或可能表现出的旋转及代偿。评估牙及牙槽的位置、倾斜程度以及软组织面型改善的可能性变化:即预测功能性矫治对颅面功能和审美的。在应用功能性矫治器中应充分估计这种软组织的 ......