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[治疗]二、常用X线头影测量标志点

头影测量标志点是用来构成一些平面及测量内容的点。很多标志点的确定不仅取决于不同学者提出的不同测量方法,而且其可靠性还依赖于头颅X线片的质量以及描图者的经验。X线头影测量标志点可分为两类:一类是解剖标志点,此类标志点代表一定的解剖结构。 ......

——《口腔正畸学》
书名:《口腔正畸学》
栏目:口腔正畸学 > 第二篇 诊 断 篇 > 第七章 X线头影测量分析 > 第二节 X线头影测量技术
作者:林久祥
参编:许天民,赵志河,丁寅,白玉兴,邓锋
页码:138-139
版本:1
出版社:人民卫生出版社
出版时间:2011-01-01
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