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[辅助检查]第一节 概 述

通过对不同年龄段的个体进行X线头影测量分析,可横向和纵向地研究颅面的生长发育。从20世纪30年代起,国内外许多正畸学者(Broadbent、Enlow、Bj ōr k等)对不同年龄段的个体进行了许多X线头影测量的分析研究,初步明确了颅面生长发育的机制、生长快速期的性别和年龄差异,为颅面生长发育的预测提供了参考数据。获取三维X线片:利用X线头颅定位仪,可以通过患者侧位、后前位、颏顶位的定位头颅摄片,获取患者的侧位、正位、颅底位三维X线头影测量片资料,以供全面的三维诊断分析研究。因素:检查记录并校正投照因素, ......

——《口腔正畸学——基础、技术与临床》
书名:《口腔正畸学——基础、技术与临床》
栏目:口腔正畸学——基础、技术与临床 > 第二篇 诊断与技术 > 第六章 常用X线头影测量分析法
作者:陈扬熙
参编:赵志河,白丁,赖文莉,邹淑娟,罗颂椒
页码:214-216
版本:1
出版社:人民卫生出版社
出版时间:2012-01-01
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