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[辅助检查]二、Wylie分析法

Wylie分析法(Wylie analysis)(1947年提出)是对牙面结构深度及高度的测量,是以线距计测为主的分析法。它以S点为测量坐标,F H平面(耳点用机械耳点)和MP平面为基准平面,通过S点及各测量点向F H平面作垂线,测量垂足间的距离(mm)或标志点垂足与S点垂足间的距离(mm),并与正常值比较,以分析牙、颌骨矢状向的位置和颌骨长度的变化及面高的变化。通过髁突后缘和蝶鞍中心点向F H平面作垂线,测量两垂足间的距离,即为Co‐S,此距可代表颞下颌关节位置和下颌的位置。上面高占全面高的百分比。表2 ......

——《口腔正畸学——基础、技术与临床》
书名:《口腔正畸学——基础、技术与临床》
栏目:口腔正畸学——基础、技术与临床 > 第二篇 诊断与技术 > 第六章 常用X线头影测量分析法 > 第三节 侧位片常用X线头影测量分析方法
作者:陈扬熙
参编:赵志河,白丁,赖文莉,邹淑娟,罗颂椒
页码:224-225
版本:1
出版社:人民卫生出版社
出版时间:2012-01-01
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