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[文献资料]三、神经损伤后的电生理改变

有髓轴突的连续性及相应的神经元胞体受到物理破坏后,断离的轴突远端经历了特征性的形态学改变,即瓦勒变性。研究认为,能量缺乏是导致瓦勒变性的重要因素,即所谓的“饥饿”假说。膜Na + 、 K + - ATP酶活性降低与周围神经横断有关,其他导致周围神经系统和中枢神经系统轴突变性的损伤机制(如机械性脊髓损伤、化学中毒、缺血或缺氧)亦与能量缺乏和(或) Na + 、 K + - ATP酶活性降低有关。直接和间接的证据都表明:在损伤和变性的轴突,能量缺失和Na +活性的减弱将促使轴浆内Na +升高和K +丢失。钙结 ......

——《再生医学基础与临床》
书名:《再生医学基础与临床》
栏目:再生医学基础与临床 > 第二十七章 外周神经系统再生 > 第二节 周围神经损伤的分子机制
作者:付小兵 王正国 吴祖泽
参编:马小军,王 为,王正国,王恩彤,王常勇
页码:590-591
版本:1
出版社:人民卫生出版社
出版时间:2013-05-01
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