X线头影测量（cephalometrics），主要是测量分析头颅定位下投照的X线头颅影像，从而了解牙、颌、面、颅软硬组织的结构及其相互关系，将牙、颌、面、颅部的检查、诊断由表面软组织形态深入到由其包被内部的骨骼结构中。作头影测量分析时，定位参照点是十分重要的，通过连接各点成参考线和平面，进行测量线段、角度及线段间比例。几十年以来，X线头影测量技术已经成为口腔医学临床各专业尤其是口腔正畸及口腔外科等学科的临床诊断、治疗设计及研究工作的常规而又重要的手段。
X线头影测量的主要应用
1. 牙、颌、颅面错牙合畸形的诊断分析 通过X线头影测量对颅面畸形患者进行测量分析，可了解畸形的机制、主要部位及性质，是骨骼性畸形还是牙牙合性畸形。
2. 确定错牙合畸形的矫治设计和分析预后 借助X线头影测量分析，了解畸形牙牙合、颅面的结构及其各部分的相互关系，找到错牙合的机制，从而确定理想的颌骨和牙齿矫治位置，制订出合理可行的治疗方案，判断矫治后的预期效果。
3. 外科正畸的诊断和矫治设计 对需进行外科正畸的严重颅面骨骼性畸形的患者，就必须通过头颅定位X线进行颅面软硬组织的分析，明确畸形产生的主要机制，确定手术的方法、部位及所需切除或移动颌骨的量，而且应用X线头影图迹进行剪裁、拼对，模拟手术效果，为外科正颌手术提供充分的依据，从而提高诊治水平。
4. 研究比较治疗过程前、中和后的牙、牙合、面、颅形态结构变化 X线头影测量也常用于评定矫治过程中，牙、牙合、颅面形态结构发生的变化，从而了解矫治器的作用原理和矫治后的稳定及复发情况。
5. 下颌功能分析 X线头影测量还能用于研究下颌运动、语言发音时的腭功能，以及息止牙合间隙等方面的功能分析；用于下颌由息止位至咬合位时髁突、颌位等位置运动轨迹的功能研究。
6. 研究颅面生长发育 由于X线头颅照相是严格定位的，头颅片具有可靠的可比性，我们可以凭借X线头影测量技术从横向和纵向研究颅面生长发育，既可以对某一个体不同时期头颅片进行纵向研究，也可以针对各年龄组群体X线头影测量作横向研究。因此，X线头影测量是研究颅面生长发育的重要方法。
颅定位X线照相
图4-12 头颅定位仪
1. 头颅定位仪及其工作原理用于头影测量的X线头颅影像，要有可比性，就必须要在头颅定位仪（cephalometer）的严格定位下拍摄，因为固定的头颅位置完全排除了因头位不一致而造成的误差后，各测量结果才具有分析比较的价值。头颅定位仪正是确保这一要求的仪器。其定位的基本原理大致是：通过定位仪上的左右耳塞与眶点指针三者构成一个与地面平行的恒定的眶耳平面，从而保证每次投照都在这一位置，以使不同个体或不同时期分别拍摄的X线头颅片都具有可比较和分析的价值（图4-12）。
2. X线投照方法投照X线头颅片时，一般要求X线球管与被照者头颅之间保持不小于150cm的间距，而且应使头颅与胶片盒尽量紧贴，以减小放大变形误差和失真的产生。拍摄X线像时，先使头颅定位仪的两耳塞进入头部左右耳道，然后上下调整头部位置，使眶点指针抵于眶点，此时头部便固定在眼耳平面与地面平行的位置上。每次投照时，头位均恒定于此不变，这样头位、X线球管及胶片三者之间的关系维持恒定，所得的X线片才能保证测量结果的可靠。头颅定位仪的顶盘一般具有刻度并能旋转，当需投照后前位或一定角度的位置时，只要旋转90°或一定角度即可（图4-13）。
图4-13 头颅定位X线侧位头影像
投照所得的X线头影片不能直接进行X线头影测量，而需描成抽象的点、线、弧、角的解剖图形，描图需在良好光源的X线观片灯下或专用的描图桌上进行。将X线头影描在硫酸纸上（图4-14），描成的头影图必须精确地与头影像形态完全一致。再定点，描绘的点线必须精确细小，以减少误差，然后在描图纸上进行测量分析。在X线头影图像上，有因头颅本身厚度或个体左右侧结构不完全对称而出现的部分左右侧影像不完全重合，此时则取其平均中点进行描绘。
图4-14 头影图的描绘
常用X线头影测量的标志点及平面
头影测量标志点
标志点是用来构成线距、角、平面及测量内容的点。理想的标志点应该是易于定位且在生长发育过程中应相对稳定的解剖标志。头影测量标志点大致可分为两类：一类是解剖的，即为真正代表颅骨的一些解剖结构；另一类是引伸的，它们是通过头影图上解剖标志点的引伸而得。
准确可靠的标志点是正确头颅测量分析的基础，而标志点的可靠性会受头颅X线片的投照质量和描图质量的影响。并非所有常用标志点都满足该要求，一些标志点譬如鼻根点、蝶鞍中心点、颏下点等位于正中矢状面上的单个点，常常比较清晰而易于定位，但是另一些如眶下点、耳点、下颌角点等为双侧点，由于面部不对称或者投照技术的原因造成两侧的点不重叠，这时可取两点的中点作为校正的标志点。
（1）颅部标志点（图4-15）：
图4-15 常用颅部标志点：S：蝶鞍点；N：鼻根点；P：耳点；Bo：Bolton点；Ba：颅底点
1）蝶鞍点（S.sella）：蝶鞍影像的中心，是一个常用的颅部标志点。
2）鼻根点（N.nasion）：正中矢状平面上鼻额缝的最前点。这是前颅部的标志点，代表颅部与面部的前部结合处。
3）耳点（P.porion）：外耳道的最上点。临床上常以定位仪耳塞影像之最上点来代表，称为机械耳点。但少数学者用外耳道影像的最上点来表示，则为解剖耳点。
4）Bolton点：枕骨髁突后切迹之最凹点。
5）颅底点（Ba.basion）：正中矢状平面上枕骨大孔前缘之中点。一般此点较易确定，常作为后颅底的标志点。
（2）上颌标志点（图4-16）：
图4-16 常用上颌标志点：O：眶点；Ptm：翼上颌裂点；ANS：前鼻棘点；PNS：后鼻棘点；A：上齿槽座点；SPr：上齿槽缘点；UI：上中切牙点
1）眶点（O.orbitale）：眶下缘之最低点。常取两点之间的中点，以减小其误差。
2）翼上颌裂点（Ptm.pterygomaxillary fissure）：翼上颌裂轮廓之最下点。此点提供了确定上颌骨的后界和磨牙的近远中向间隙及位置的标志。
3）前鼻棘（ANS.anterior nasal spine）：前鼻棘之尖。后鼻棘（PNS.posterior nasal spine）：硬腭后部骨棘之尖。ANS、PNS是确定腭平面的标志点。
4）上齿槽座点（A.subspinale）：前鼻棘与上齿槽缘点间骨部的最凹点。此点仅用于前后向测量。
5）上齿槽缘点（SPr.superior prosthion）：上中切牙切端最前下点。该点常位于上中切牙的牙釉质牙骨质界处。
6）上中切牙点（UI.upper incisor）：上中切牙切缘之最前点。
（3）下颌标志点（图4-17）：
图4-17 常用下颌标志点：Co：髁顶点；Ar：关节点；Go：下颌角点；Li：下切牙点；Id：下齿槽缘点；B：下齿槽座点；Po：颏前点；Me：颏下点；Gn：颏顶点
1）髁顶点（Co.condylion）：髁突的最上点。
2）关节点（Ar.articulate）：为下颌髁突颈后缘与颅底下缘的交点。在髁顶点不易确定时，关节点常代替髁顶点。
3）下颌角点（Go.gonion）：下颌角后下点，为下颌平面交角和下颌升支平面交角的角平分线与下颌角的交点。
4）下切牙点（Li.lower incisor）：下中切牙切缘之最前上点。
5）下齿槽缘点（Id.infradentale）：下齿槽突之最前上点。此点常在下中切牙之牙釉质牙骨质界处。
6）下齿槽座点（B.supramental）：此点为颏前点与下齿槽突缘点间之骨部最凹点。
7）颏前点（Po.pogonion）：颏部最突点。
8）颏下点（Me.menton）：颏部最下点。
9）颏顶点（Gn.gnathion）：颏前点与颏下点间中点。
10）D点：下颌体骨性联合部的中心点。
这些标志点中，有些是在正中矢状面上，是单个的点，如鼻根点、蝶鞍点等。而有些则是双侧的点，如下颌角点、关节点等。若由于面部不对称而使两侧之点不重叠时，则取两点间的中点作为校正的位置。
（4）软组织侧面标志点（图4-18）：
图4-18 常用软组织侧面标志点
G：额点；Ns：软组织鼻根点；E：眼点；Pn：鼻尖点；Sn：鼻下点；UL：上唇突点；UL′：上唇缘点；LL：下唇突点；LL′：下唇缘点；Pos：软组织之颏前点；Mes：软组织颏下点；K：咽点
1）额点（G.glbella）：额部最前点。
2）软组织鼻根点（Nsnasion of soft tissue）：软组织侧面上相应的鼻根点。
3）眼点（E.eye）：脸裂的外眦点。
4）鼻尖点（Pn.pronasale）：鼻软组织最前点。
5）鼻下点（Sn.subnasale）：鼻小柱与上唇的连接点。
6）唇缘点（vermilion borders）
①上唇缘点（UL′）：上唇黏膜与皮肤的连接点。
②下唇缘点（LL′）：下唇黏膜与皮肤的连接点。
③上唇突点（UL）：上唇最突点。
④下唇突点（LL）：下唇最突点。
7）软组织之颏前点（Pos.pogonion of soft tissue）：软组织颏最前点。
8）软组织颏下点（Mes. menton of soft tissue）：软组织颏最下点。
9）咽点（K）：软组织颈部与咽部的连接点。
头影测量平面
为了便于角度、线距和比例的测量分析，必须先建立参考线或参考平面，连接两个标志点的直线形成参考线，两条参考线构成参考平面，参考平面分为基准平面和测量平面两类。
（1）基准平面：是指在生长发育过程中位置相对稳定，头影图中与之相对应的平面。此类平面与其他测量平面间及各测量标志点组成角度、线距、比例等测量项目。目前最常用的基准平面为眼耳平面、前颅底平面和Bolton平面（图4-19）。
图4-19 常用基准平面：SN：前颅底平面；FH：眼耳平面；Bolton：Bolton平面
1）前颅底平面（SN.SN plane）：连结蝶鞍点与鼻根点而成，位于颅部的正中矢状平面上，代表前颅底的前后范围，常作为面部结构对颅底关系的定位平面。
2）眼耳平面（FH.Frank fort horizontal plane）：连结耳点与眶点的连线而成。大多数个体在正常直立平视头位时，此平面与地面平行，为多数测量分析方法的基准平面。
3）Bolton平面：由Bolton点与鼻根点连接线组成的平面。重叠头影图时多用此平面作基准平面。
（2）测量平面：是用于测量分析头颅中不同形态单元之间的角度、位置差异和相互关系的平面。常用的有：全颅底平面、腭平面、牙合平面、下颌平面、面平面、Y轴、下颌升支平面等（图4-20）。
图4-20 常用测量平面：N-Ba：全颅底平面；PP：腭平面；OP：牙合平面；MP：下颌平面；N-Po：面平面；RF：下颌支平面；Yaxis：Y轴
1）全颅底平面（N-Ba）：连结鼻根点与颅底点而成的平面。
2）腭平面（ANS-PNS.palatal plane）：前鼻棘点与后鼻棘点相连而成的平面。
3）牙合平面（OP.occlusal plane）：牙合平面确定方法一般有两种：一种是功能牙合平面或称自然牙合平面，由平分后牙咬合接触点而得的平面，常用第一恒磨牙及第一乳磨牙或第一前磨牙的咬合接触点相连而成，形成的牙合平面与切牙的任何标志点无关；另一种是解剖牙合平面，连接第一恒磨牙的咬合中点与上下中切牙切端间的中点（覆牙合或开牙合的1/2处）构成。
4）下颌平面（MP.mandibular plane）：下颌平面的确定有三种方法：①通过颏下点且与下颌角下缘相切的平面；②与下颌下缘最低部的切平面；③经过下颌角点与下颌颏顶点间的平面（Go-Gn）。
5）面平面（N-Po.facial plane）：连鼻根点和颏前点而成。
6）Y轴（Yaxis）：经过蝶鞍中心与颏顶点连线。
7）下颌支平面（RP.ramal plane）：与下颌升支及髁突后缘相切的平面。
常用硬组织测量项目
头影测量常用于分析错牙合畸形的机制，明确诊断和治疗设计。错牙合畸形主要是牙齿、牙弓、颌骨、颅面间关系的不调，可以是牙源性的，也可以是骨源性的，还可以两者兼有。X线头颅侧位片能够反映颅面结构深度和高度的二维空间关系。可测量牙齿的位置或牙轴倾斜和上颌、下颌各自的大小、形态、位置及其相互间的位置关系。主要测量角度、线距及线距比例。
（1）上下颌骨的常用测量项目：常用测量上、下颌骨相对颅部及其他结构位置关系的项目很多。通常所用的基准平面为前颅底平面（S-N）和眼耳平面（FH）（图4-21，图4-22）。
图4-21 上下颌骨的常用测量项目（一）
SNA：蝶鞍中心鼻根点上齿槽座点角；SNB：蝶鞍中心鼻根点下齿槽座点角；ANB：上齿槽座点鼻根点下齿槽座点角；NA-PA：颌凸角；SN-MP：下颌平面角
图4-22 上下颌骨的常用测量项目（二）
MP-FH：下颌平面角；NP-FH：面平面角；Y-FH：面平面角；S-Ptm：上颌位置；A-Ptm：上颌长；Co-Po：下颌长；S-Co：下颌位置
1）SNA角：蝶鞍中心鼻根点上齿槽座点角。反映上颌相对于颅部的前后向位置关系。此角过大时，上颌前突、面部侧貌凸出，反之，上颌后缩、面部凹面。
2）SNB角：蝶鞍中心鼻根点下齿槽座点角。反映下颌相对于颅部的前后向位置关系。此角过大时，下颌呈前突、面部凹面，反之，下颌后缩、面部凸出。
3）ANB角：上齿槽座点鼻根点下齿槽座点角。即SNA角与SNB角之差值。反映上、下颌骨对颅部的相互前后位置关系。当SNA大于SNB时ANB角为正值，反之ANB角为负值。该值越大，凸面型越明显，越小，凹面型越明显。
4）NA-PA（颌凸角）：由N点至A点连线（NA），与Pog点至A点连线（PA）延长线交角。此角反映面部的上颌部分相对与整个侧面的突缩程度。如PA延长线在NA前方，此角为正值，越大表示上颌的相对突度越大，反之为负值，越小，上颌相对越后缩。
5）NP-FH（面平面角）：是面平面NP与眶耳平面FH的下后交角。反映下颌的突缩程度。此角越大表示下颌越前突，反之，下颌后缩。
6）Y轴角：Y轴与眶耳平面（FH）的前下交角。此角代表面部的生长发育方向；同时反映颏部的突缩，此角越小则表示颏部越前突，反之，颏部越后缩。
7）MP-FH（下颌平面角）：下颌平面（MP）与眶耳平面（FH）的交角。代表下颌体的陡度，下颌角的大小；也反映面部的高度。下颌平面（MP）与前颅底平面（SN）交角也可代表下颌平面角，两者意义相同。
8）A-Ptm（上颌长）：翼上颌裂点与上齿槽座点分别在FH平面上的垂足间距离。代表上颌的长度。
9）S-Ptm（上颌位置）：翼上颌裂点与蝶鞍中心分别在FH平面上的垂足间距离。表示以蝶鞍中心点为参照，上颌后界的前后位置，也反映上颌骨的前后位置关系。
10）Co-Po（下颌长）：髁突后缘切线与颏前点切线分别在下颌平面上的垂足间的距离。代表下颌骨的综合长度。
11）S-Co（下颌位置）：髁突后切线与蝶鞍中心分别在FH平面上的垂足间的长度。代表以蝶鞍中心点为参照，下颌髁突后界前后位置，同样也代表下颌骨的前后位置关系。
（2）上下前牙的常用测量项目（图4-23）
图4-23 上下前牙的常用测量项目
1）
-SN角：上中切牙长轴与SN平面的内下交角，此角代表上中切牙对于前颅底的相对倾斜程度。角度过大表示上中切牙唇倾，反之为舌倾。
2）-NA角：上中切牙长轴与鼻根点（N）上齿槽座点连线（A）交角，表示上中切牙的倾斜度和突度。
3）-NA距：上中切牙切缘至鼻根点（N）上齿槽座点（A）连线的垂直距离，亦表示上中切牙的倾斜度和突度。
以上两项测量相互结合就可以精确地确定上切牙的倾突程度。
4）-MP角：下中切牙长轴与SN平面相交的上内角，反映下中切牙对于下颌平面的倾斜度。此角过大表示下中切牙唇倾，此角过小表示下中切牙舌倾。
5）-NB角：下中切牙长轴与鼻根点（N）下齿槽座点连线（B）的交角，表示下中切牙的倾斜度和突度。
6）-NB距：下中切牙切缘至鼻根点（N）下齿槽座（B）点连线的垂直距离，亦表示下中切牙的倾斜度和突度。
以上两项测量相互结合就可精确地确定下切牙的倾突程度。
7）下中切牙牙合平面角（牙合平面的前下交角。此角表示下中切牙与牙合平面的关系，此角越大表示下中切牙越唇向，越呈低角Ⅱ类关系。
8）上下中切牙角（ to 
angel）：上下中切牙长轴的交角。此角反映上下中切牙的突度，尤其是上下前部牙弓。此角越小突度越大，反之亦然。
9）牙合平面角（cant of occlusion plane）：牙合平面与眶耳平面的交角，此角代表牙合平面的斜度。牙合平面由第一恒磨牙及上下中切牙的标志点组成，前高后低为正角，角度越大，牙合平面越陡，为安氏Ⅱ类面型倾向；反之，此角越小，牙合平面越平，为安氏Ⅲ类面型倾向。
（3）面部高度测量项目（图4-24）
图4-24 面部高度测量项目
1）全面高（N-Me）：鼻根点与颏下点间的距离。
2）上面高（N-ANS）：鼻根点与前鼻棘点间的距离。
3）下面高（ANS-Me）：前鼻棘点与颏下点间的距离。
4）上面高与全面高之比：N-ANS/N-Me×100%。
5）下面高与全面高之比：ANS-Me/N-Me×100%。
以上所有测量项目，每一项都有其特定的意义，反映相应结构的生长变化趋势或特点。头颅是牙颌、颅面各部分结构组成的复合体。其正常与否并不完全取决于某一指标，而取决于各部分间的配合。在一定变异范围内，只要牙颌、颅面有协调的关系及相互补偿，就会产生正常的颅面形态。因此，如果孤立地评价某一项指标常会导致错误的结论。我们由此可以认为，牙颌畸形是牙颌、颅面各部分间的不协调所致。因而在评价畸形特征及其机制时，必须综合评价各项测量指标，才能明确畸形发生机制，做出正确的诊断和矫治计划。
常用X线头影测量分析法
到目前为止，X线头影测量分析法已有几十种，主要是测量分析牙颌与颅面骨骼以及确定颅面骨骼之间的关系。不同分析方法从不同的侧重点对X线头影进行分析，其测量项目由其研究分析内容而定。以下是一些常用的并较为系统的测量方法。
（1）Downs分析法：Downs于1948年提出此分析法。此法以眶耳平面为基准平面，共10项测量项目，具体测量内容如下。
1）反映骨骼间关系：包括面角（NPg-FH）、下颌平面角（MP-FH）、Y轴角（Y-FH）、颌凸角（NA-PgA）及上下齿槽座角（AB-NPg）五项测量。
2）反映牙牙合与骨骼间关系的测量：包括牙合平面角（OP-FH）、下中切牙牙合平面角（牙合Downs分析法测量结果见表4-2。
表4-2中国人正常牙合Downs分析法测量均值（X±S）
| 测量项目 | 替牙期 | 恒牙初期 | 恒牙期 |
| NP-FH | 83.1±3.0 | 84.4±2.7 | 85.4±3.7 |
| MP-FH | 31.6±3.9 | 29.1±4.8 | 27.3±6.1 |
| Y-FH | 65.5±2.9 | 65.8±3.1 | 65.8±4.2 |
| NA-PA | 10.3±3.2 | 7.5±4.6 | 6.0±4.4 |
| AB-NPg | -5.9±2.0 | -5.2±2.6 | -4.3±2.8 |
| OP-FH | 16.4±3.3 | 14.2±3.7 | 12.4±4.4 |
| -OP |
111.7±6.5 | 111.7±5.9 | 111.6±6.0 |
| -MP |
96.3±5.1 | 96.9±6.0 | 96.5±7.1 |
| - |
122.0±6.0 | 124.2±7.3 | 125.4±7.9 |
| -AP（mm） |
7.7±1.6 | 7.5±2.1 | 7.2±2.2 |
（2）Steiner分析法：1953年Steiner在Downs、Riedel等分析法基础上择优而集成的一个具有14项测量内容的头影测量分析法，称为Steiner分析法，其中一些测量内容是以往已提出的，这一分析法也较为广泛地应用于口腔正畸临床诊断及设计分析。Steiner分析法除了14项测量内容外，还有一个由ANB角与上、下中切牙和颅面颌骨位置关系所组成的结构分析法。测量内容如下。
1）SNA角
2）SNB角
3）ANB角
4）SND角：由前颅底平面骨性下颌联合中点构成的角，代表下颌整体对颅部的位置关系。
5）-NA角
6）-NA（mm）
7）-NB角
8）-NB（mm）
9）颏突距Po-NB（mm）：颏前点至NB连线的垂直距离。
10）-角
11）牙合平面角（OP-SN）：牙合平面与前颅底平面之交角，代表牙合平面的斜度。
12）下颌平面（GoGn-SN）：下颌平面与前颅底平面交角。代表下颌平面的斜度及面部高度。下颌平面由下颌角点与颏顶点连线所组成。
13）SL（mm）：蝶鞍点至颏前点向SN平面作垂线的交点间距离。代表下颌颏部对颅底之位置关系。
14）SE（mm）：蝶鞍点至髁突最后点向SN平面作垂线的交点间距离。代表下颌髁突对颅底的位置关系。SL及SE两项测量相结合，可了解下颌位置的变化及下颌生长发育情况。
Steiner认为，建立正常个体各项头影测量标准，对于了解各个种族颅面生长特征是十分重要的基础，并指出各民族建立自己测量均值的重要性。
北京医科大学口腔医学院于1981年在对正常牙合颅面结构的电子计算机头影测量研究中，建立了中国人正常牙合的Steiner分析法各测量项目正常均值。替牙期组平均年龄为9.9岁，恒牙期组平均年龄为20.3岁。中国人正常牙合Steiner分析法测量结果见表4-3。
表4-3 中国人正常牙合Steiner分析法测量均值表（X±S）
| 测量项目 | 替牙期 | 恒牙期 |
| SNA | 82.3±3.5 | 82.8±4.0 |
| SNB | 77.6±2.9 | 80.1±3.9 |
| ANB | 4.7±1.4 | 2.7±2.0 |
| SND | 74.3±2.7 | 77.3±3.8 |
| -NA（mm） |
3.1±1.6 | 5.1±2.4 |
| -NA（°） |
22.4±5.2 | 22.8±5.7 |
| -NB（mm） |
6.0±1.5 | 6.7±2.1 |
| -NB（°） |
32.7±5.0 | 30.3±5.8 |
| Po-NB（mm） | 0.2±1.3 | 1.0±1.5 |
| - |
120.2±7.2 | 124.2±8.2 |
| OP-SN | 21.0±3.6 | 16.1±5.0 |
| GoGn-SN | 35.8+3.6 | 32.5±5.2 |
| SL（mm） | 43.1±4.1 | 52.2±5.4 |
| SE（mm） | 16.9±2.7 | 20.2±2.6 |
（3）Tweed分析法：该分析法是测量代表面部形态结构的颌面三角形即由眶耳平面、下颌平面、下中切牙长轴所组成的三个角（图4-25）。
图4-25 Tweed分析法测量内容图
1）眶耳平面下颌平面角（FMA）：眶耳平面与下颌平面的交角，该法中下颌平面以下颌下缘的切线确定。
2）下中切牙眶耳平面角（FMIA）：眶耳平面与下中切牙长轴的交角。
3）下中切牙下颌平面角（IMPA）：下中切牙长轴与下颌平面的交角。
Tweed通过测量分析认为FMIA65°是美国白种正常牙合儿童建立良好面型的重要条件，FMIA65°成为矫治追求的目标。在以上3项测量中，FMA很难用一般的正畸方法改变，因此，要达到FMIA65°的矫治目标，只有靠改变下中切牙的位置和倾斜度来实现。由于种族间存在差异，FMIA65°的矫治目标不适用于中国儿童。北京地区中国人正常牙合Tweed分析法之测量结果见表4-4。
表4-4 正常牙合中国人Tweed分析法测量均值（X±S）
| 测量项目 | 均值±标准差（°） |
| 下颌平面角（FMA） | 31.3±5.0 |
| 下中切牙-眶耳平面角（FMIA） | 54.9±6.1 |
| 下中切牙-下颌平面角（IMPA） | 93.9±6.2 |
以上是目前在正畸临床上应用较为广泛的几种X线头影测量分析方法。
常用软组织测量内容
软组织测量是头影测量分析中的一部分。是因为软组织形态与其下方的硬组织形态并不完全一致，在正畸矫治目标中，软组织侧面形态改善十分重要，特别是对外科正畸病例的诊断分析及矫治设计具有特别重要的意义（图4-26）。
图4-26 常用软组织测量内容
FCA：面型角；NLA：鼻唇角；ULP：上唇突度；LLP：下唇突度；UFH：上部面高；ULL：上唇长；LLL：下唇长
（1）面型角（FCA）：额点鼻下点连线和鼻下点软组织颏前点连线后交角，反映软组织面型突度。
（2）鼻唇角（NLA）：鼻下点-鼻小柱点连线和鼻下点上唇突点连线前交角，反映上唇与鼻底的位置关系。
（3）上部面高（UFH）：E点和Sn点分别在GSn连线上的垂足间的距离。
（4）上唇长（ULL）：Sn点和上口点（upper stomion）在Sn-Pos连线上的垂足间的距离。
（5）下唇长（LLL）：Mes点和下口点（lower stomion）向Sn-Pos连线上的垂足间的距离。UFH、ULL、LLL三者之间的比例关系代表面部上中下之间的比例。
（6）上唇突度（ULP）：UL到Sn-Pos连线距。
（7）下唇突度（LLP）：LL到Sn-Pos连线距。
（8）对唇突度分析采用的三条线（图4-27）
图4-27 审美线、H线和Z线：A：审美线；B：H线和Z线
1）审美线（Eline）：是指与鼻尖和软组织颏部相切的线。测量上下唇至审美线的距离可反映上下唇相对于鼻和软组织颏的平衡情况。侧貌平衡良好时，下唇接触E线，上唇在此线稍后方0.5~1.0mm。当下唇位于E线之前时，下唇至此线的距离为正值，此值越大表示下唇突度也越大，反之亦然。
2）H线（Holdaway线）：又名Pos-UL连线是经软组织颏前点（Pos）与上唇相切（UL）的线，H角是H线与NB的交角，反映软组织颏部与唇的位置关系。H线与软组织侧面的关系包括H线与鼻、鼻唇沟、上唇、下唇、颏唇沟、颏部的关系。
3）Z线：系经软组织颏前点至最前突的唇（上唇或下唇）的切线。该线由Merrifield倡导，他认为Z线是H线的改进，可以更好地代表唇的前突程度。在理想侧貌下，此线与上唇相切或在上唇稍后。Z角是此线与眶耳平面的内下交角。
